Pinzas para Probar CI

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Mín./Máx. Núm. de Contactos
Mín./Máx. Espaciado, Paso
Mín./Máx. Contacto, Chapado
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= 40Contactos
 
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  No. de pieza del fabricante No. Parte Newark Descripción / Fabricante
Disponibilidad Precio para
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IC, Tipo Núm. de Contactos Espaciado, Paso Contacto, Chapado Rango de Producto
 
 
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SPC15160
SPC15160 - Pinza para Probar Circuitos Integrados, 40 Contactos, Contactos con Recubrimiento de Oro

79K4766

Pinza para Probar Circuitos Integrados, 40 Contactos, Contactos con Recubrimiento de Oro

TENMA

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- 40Contactos - Contactos con Recubrimiento de Oro -
923722
923722 - Pinza para Probar Circuitos Integrados, DIP, 40 Contactos, Contactos con Recubrimiento de Oro

65F136

Pinza para Probar Circuitos Integrados, DIP, 40 Contactos, Contactos con Recubrimiento de Oro

3M

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DIP 40Contactos - Contactos con Recubrimiento de Oro Serie 923722
923690-40
923690-40 - Pinza para Probar Circuitos Integrados, DIP, 40 Contactos, Contactos con Recubrimiento de Oro

65F2311

Pinza para Probar Circuitos Integrados, DIP, 40 Contactos, Contactos con Recubrimiento de Oro

3M

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Each

No cancelable / No retornable

10+ $66.81 25+ $64.01 50+ $60.81 100+ $58.01 200+ $54.80 500+ $53.21 Más precios…

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DIP 40Contactos - Contactos con Recubrimiento de Oro Serie 923690