Ha introducido un valor en los campos resaltados a continuación que contiene caracteres no válidos. Revise su selección utilizando sólo caracteres válidos.

Es posible que el producto no corresponda exactamente con su búsqueda

Ya compró este producto antes. Ver en Historial de pedidos

 
 

923665-28

Pinza para Probar Circuitos Integrados, SOIC, 28 Contactos, Contactos con Recubrimiento de Oro

3M 923665-28

La imagen solo tiene fines ilustrativos. Consulte la descripción del producto.

Fabricante:
3M 3M
No. Parte Fabricante:
923665-28
No. Parte Newark
46F2121
Rango de productos
Serie 923665
También conocido como:
GTIN UPC EAN: 00054007801160 80610336150
Hoja de datos técnicos:
923665-28   Datasheet
Ver todos los documentos técnicos

Selector de rango de producto (Serie 923665)

Ver todo de este rango de productos

Información del producto

¿Quieres ver productos similares? Selecciona tus atributos requeridos a continuación y haz clic en el botón ×


:
SOIC

:
28Contactos

:
-

:
Contactos con Recubrimiento de Oro

:
Serie 923665

Encontrar productos similares Elija y modifique los atributos anteriores para encontrar productos similares.

Documentos técnicos (3)

Resumen del producto

The 923665-28 is a surface-mount Test Clip with headless head. This series provides downsized series made of smaller components and higher densities. Now hard to access surface-mount ICs can be connected to test probes and logical assemblies quickly and easily without the risk of shorting out clips or damaging other board components. The 3M clips allow safe, accurate and convenient testing of plastic leaded chip carrier (PLCC) and ceramic leadless chip carrier (LCC) style integrated circuits. The unique action wedge design of the test clip allows all four of its side to open simultaneously for one step, secure attachment to the PLCC being tested.
  • Helical compression spring and insulating contact combs ensure contact integrity during testing
  • Probe access points are immediately visible for fast and safe individual lead testing
  • Staggered contact rows facilitate probe attachment & prevent accidental shorting of adjacent probes
  • With positive attachment to device, test clip will not fall off when board is vertical
  • Wiping action and high nominal force combine to provide excellent electrical contact
  • Gold alloy plated leads
  • High normal force
  • Excellent electrical contact
  • Long-term performance

Aplicaciones

Test y Medida, Industrial

También conocido como

GTIN UPC EAN: 00054007801160 80610336150

0 En stock

No cancelable / No retornable

$37.75

El precio no está disponible. Por favor Contáctese con Servicio al cliente.

Precio para:
Each
Múltiple: 25 Mínimo: 25
Cantidad Precio en USD Su Precio en USD
 
 
25+ $37.75
Precio promocional
Precio de contrato
Precio exclusivo de la web
Precio de contrato exclusivo de la web
 
50+ $35.86
Precio promocional
Precio de contrato
Precio exclusivo de la web
Precio de contrato exclusivo de la web
 
100+ $34.21
Precio promocional
Precio de contrato
Precio exclusivo de la web
Precio de contrato exclusivo de la web
 
200+ $32.32
Precio promocional
Precio de contrato
Precio exclusivo de la web
Precio de contrato exclusivo de la web
 
500+ $31.38
Precio promocional
Precio de contrato
Precio exclusivo de la web
Precio de contrato exclusivo de la web
 
 
 

El precio no está disponible. Por favor Contáctese con Servicio al cliente.

No longer stocked:: No Longer Manufactured::
Añadir a la cesta Pedidos pendientes Realizar Un Pedido Por Anticipado
Agregar
Producto restringido
Agregar número de pieza /nota de línea
Precio total:
Precio total: ( )
Precio total: --

Evaluaciones del cliente

Intercambio de preguntas y respuestas de los clientes