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923665-28
Pinza para Probar Circuitos Integrados, SOIC, 28 Contactos, Contactos con Recubrimiento de Oro
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- Fabricante:
- 3M 3M
- No. Parte Fabricante:
- 923665-28
- No. Parte Newark
- 46F2121
- Rango de productos
- Serie 923665
- También conocido como:
- GTIN UPC EAN: 00054007801160 80610336150
- Hoja de datos técnicos:
- 923665-28 Datasheet
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- Contactos con Recubrimiento de Oro
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- Serie 923665
Documentos técnicos (3)
Resumen del producto
- Helical compression spring and insulating contact combs ensure contact integrity during testing
- Probe access points are immediately visible for fast and safe individual lead testing
- Staggered contact rows facilitate probe attachment & prevent accidental shorting of adjacent probes
- With positive attachment to device, test clip will not fall off when board is vertical
- Wiping action and high nominal force combine to provide excellent electrical contact
- Gold alloy plated leads
- High normal force
- Excellent electrical contact
- Long-term performance
Aplicaciones
Test y Medida, Industrial
También conocido como
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- Precio para:
- Each
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