Potencie su conectividad con la E/S multifunción de NI
Los dispositivos de entrada/salida multifunción, o MIO, DAQ, combinan las funciones de medición principales en un solo dispositivo
Un dispositivo, posibilidades infinitas
¿Por qué NI para DAQ?
Software
NI tiene las mejores opciones de software para que los ingenieros monten sistemas de medición y prueba automatizados. Estas opciones de software incluyen las siguientes:
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Código de ejemplo y soporte para Python, C/C++, VB .NET y C#
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FlexLogger Lite, software de registro gratuito
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LabVIEW, el estándar de la industria de pruebas y mediciones para la programación gráfica
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LabVIEW+ Suite, un paquete de software de prueba que incluye el software LabVIEW plus para análisis avanzado, procesamiento de señales y secuenciación de pruebas
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Calidad
El hardware NI es conocido por su confiabilidad y calidad de medición, de modo que los ingenieros puedan tener confianza en sus datos
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Flexibilidad
Los ingenieros utilizan el catálogo de hardware de NI para mantenerse al día con el cambio de sus trabajos cotidianos. Instrumentos, mediciones de sensores, software para pruebas; NI lo tiene todo.
¿Qué puede hacer con DAQ de E/S multifuncional?
Medir |
Generar y controlar |
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Elija su dispositivo MIO DAQ
El catálogo de hardware de NI DAQ incluye dispositivos para su uso con una computadora Windows mediante USB o la instalación dentro de una computadora de escritorio o chasis PXI.
Dispositivos USB con alimentación de bus
Número de modelo |
USB-6001 |
USB-6003 |
USB-6421 |
USB-6423 |
USB-6451 |
USB-6453 |
| Referencia | ||||||
| Canales de entrada analógicos (de terminación única/diferencial) | 8/4 | 8/4 | 16/8 | 32/16 | 16/8 | 32/16 |
| Tasa de muestreo máxima* | 20 kS/s (1 canal) | 50 kS/s (1 canal) | 250 kS/s (1 canal) | 250 kS/s (1 canal) | 1 Ms/s/c (8 canales) | 1 Ms/s/c (16 canales) |
| Número de ADC | 1 | 1 | 1 | 1 | 8 | 16 |
| Simultáneo | NO | NO | NO | NO | SÍ | SÍ |
| Resolución | 14 bits | 16 bits | 16 bits | 16 bits | 20 bits | 20 bits |
| Canales de salida analógica | 2 | 2 | 2 | 4 | 2 | 4 |
| Canales de E/S digitales | 13 (SW sincronizado) | 13 (SW sincronizado) | 16 | 16 | 16 | 16 |
| Contadores | 1 | - | 4 | 4 | 4 | 4 |
Dispositivos PCIe para instalar en su computadora Windows
Número de modelo |
PCIe-6320 |
PCIe-6321 |
PCIe-6323 |
PCIe-6351 |
PCIe-6363 | |
| Referencia | ||||||
| Canales de entrada analógicos (de terminación única/diferencial) | 16/8 | 16/8 | 32/16 | 16/8 | 32/16 | |
| Tasa de muestreo máxima* | 250 kS/s (1 canal) | 250 kS/s (1 canal) | 250 kS/s (1 canal) | 1.25 MS/c (1 canal) | 2 MS/s (1 canal) | |
| Número de ADC | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 | |
| Simultáneo | NO | NO | NO | NO | NO | |
| Resolución | 16 bits | 16 bits | 16 bits | 16 bits | 16 bits | |
| Canales de salida analógica | 0 | 2 | 4 | 2 | 4 | |
| Canales de E/S digitales | 24 | 24 | 48 | 24 | 48 | |
| Contadores | 4 | 4 | 4 | 4 | 4 | |
| Se necesitan cables y bloques de conectores | 1 de cada uno | 1 de cada uno | 2 de cada uno | 1 de cada uno | - |
Dispositivos PXI para instalar en un chasis PXI
Número de modelo |
PXIe-6375 |
PXIe-6363 |
PXIe-6366 |
PXIe-6349 |
PXIe-6396 |
| Referencia | |||||
| Canales de entrada analógicos (de terminación única/diferencial) | 208/104 | 32/16 | 8/0 | 32/0 | 8/0 |
| Tasa de muestreo máxima* | 3.86 MS/s (1 canal) | 2 MS/s (1 canal) | 2 MS/s/c | 500 kS/s/c | 14 MS/s/c |
| Número de ADC | 1 | 1 | 8 | 32 | 8 |
| Simultáneo | NO | NO | SÍ | SÍ | SÍ |
| Resolución | 16 bits | 16 bits | 16 bits | 16 bits | 18 bits |
| Canales de salida analógica | 2 | 4 | 2 | 2 | 2 |
| Canales de E/S digitales | 24 | 48 | 24 | 24 | 24 |
| Contadores | 4 | 4 | 4 | 4 | 4 |
| Se necesitan cables y bloques de conectores | 4 de cada uno | 2 de cada uno | 1 de cada uno | 2 de cada uno | 1 de cada uno |
Cables y bloques de conectores para dispositivos PCIe y PXIe DAQ
Descripción |
Longitud |
Referencia |
| Cables blindados VHDCI | 0.5 m | |
| 1 m | ||
| 2 m | ||
| 5 m |
Aplicaciones clave y casos de uso
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Sistemas de medición y bancos de pruebas para investigación (académica o comercial)
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Sistemas de prueba automatizados para la validación de productos
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Sistemas de pruebas de producción para dispositivos electrónicos y subsistemas